Sensofar白光干涉光学轮廓仪的技术特点

Sensofar白光干涉光学轮廓仪的技术特点白光干涉光学轮廓仪作为一种表面形貌测量工具，具有多种技术特点，使其在工业检测和科学研究中受到关注。Sensofar S neox 光学轮廓仪集成了多种测量模式，包括共聚焦、白光干涉和相位差干涉技术，用户可以根据样品特性灵活选择合适的测量方式。

白光干涉模式利用白光干涉原理，通过垂直扫描捕获干涉条纹，分析表面高度信息。这种模式适用于光滑表面和具有高深宽比结构的测量，能够提供亚纳米级的纵向分辨率。其非接触式测量方式避免了对样品表面的损伤，适合测量敏感材料。

Sensofar S neox 光学轮廓仪采用了Microdisplay共焦技术，实现了扫描头内无运动部件。这种设计减少了振动对测量精度的影响，同时提高了扫描速度。仪器的数据采集速度可达180帧/秒，典型三维图像获取时间仅需3秒，提高了检测效率。

仪器还引入了融合共聚焦扫描模式，将共聚焦和多焦面叠加两种技术的优势结合起来。这种模式能够测量最大86度的斜坡，同时保持纳米级的纵向精度，扩展了仪器的应用范围。

在数据处理方面，Sensofar S neox 光学轮廓仪配备了智能噪音检测功能，能够识别并消除不可靠的数据像素，提高图像质量。与传统的空间平均技术相比，这种逐像素处理的方法可以在不损失横向分辨率的情况下减少噪点。

仪器的校准遵循ISO 25178标准，确保了测量结果的可追溯性。它支持一键实现ISO25178和ISO4287标准的粗糙度测量，无需复杂的参数设置，简化了操作流程。

Sensofar S neox 光学轮廓仪的软件分析系统Senso View提供了交互式分析工具，支持二维和三维视图的多种显示和渲染选项。用户可以测量关键尺寸、角度、距离等参数，并使用注释工具突出显示特征。

此外，仪器的结构设计考虑了环境适应性，全封闭光路和恒温控制系统有助于减少温度波动和振动对测量的影响。这种设计保障了仪器在24小时连续运行时的测量稳定性。

总的来说，白光干涉光学轮廓仪通过结合多种测量技术和*的数据处理算法，为用户提供了一种多功能的表面形貌测量方案。其技术特点使其能够适应从粗糙到超光滑的各种表面测量任务，满足不同行业的应用需求。Sensofar白光干涉光学轮廓仪的技术特点