Sensofar LIN：入门级三维测量轮廓仪新选​ Sensofar经济型三维共聚焦白光干涉轮廓仪是一款集成了多种优良光学技术的高精度测量设备。其核心功能包括共聚焦、白光干涉和相位差干涉，能够实现纳米级精度的表面形貌测量。设备具备高分辨率、快速扫描和大范围测量能力，适用于多种材质和结构的表面检测。

Sensofar 轮廓仪：微型电子元件的检测利器 在微型电子元件制造领域，如微型传感器、微型连接器、芯片封装元件等，其尺寸通常以微米为单位，表面质量与尺寸精度直接决定元件的电气性能与装配兼容性。哪怕是几微米的尺寸偏差或细微划痕，都可能导致元件无法正常工作或装配失效。

Sensofar 轮廓仪：精密模具制造质检保障 在精密模具制造领域，模具的表面质量、尺寸精度与纹理一致性直接决定了成型产品的质量。无论是汽车零部件模具的细微纹路，还是电子元件模具的微小型腔，哪怕微米级的误差都可能导致产品报废。Sensofar 新型共聚焦白光干涉光学轮廓仪 S neox，凭借对微观结构的精准检测能力与适配模具检测场景的特性，成为精密模具制造全流程质量控制的重要工具，为模具设计验证、

Sensofar S neox：生物医学研究的观测助手 在生物医学领域，从生物组织样本的微观结构观测，到医疗植入体的表面质量检测，都需要精准且无损的观测手段。Sensofar 新型共聚焦白光干涉光学轮廓仪 S neox，凭借非接触式检测特性、纳米级观测精度以及对生物样本的友好适配性，成为生物医学研究与医疗产品质控的实用工具，为该领域的科研与生产提供可靠支持。

Sensofar S neox：光学元件制造的质控利器 在光学元件制造领域，透镜、棱镜、反射镜等产品的表面质量直接决定了光学系统的成像效果与性能。哪怕是微米级的面型误差或细微划痕，都可能导致光线折射、反射异常，影响最终使用体验。Sensofar 新型共聚焦白光干涉光学轮廓仪 S neox，凭借对微观表面的精准捕捉能力与适配光学元件检测的特性，成为光学元件制造过程中质量控制的关键工具，为各类光学元件

Sensofar S neox：半导体行业检测好帮手 在半导体行业，芯片从设计到生产的每一个环节，都对精度有着要求，微小的表面缺陷或尺寸偏差都可能影响芯片性能。Sensofar 新型共聚焦白光干涉光学轮廓仪 S neox，凭借精准的检测能力与适配半导体场景的特性，成为半导体生产过程中质量把控的重要工具，为芯片制造的多个环节提供可靠检测支持。