Sensofar白光干涉轮廓仪为光学检测量身打造

产品简介

Sensofar白光干涉轮廓仪为光学检测量身打造S neox针对光学元件检测配备专属附件，包括0.65X Michelson物镜，能以大视野快速测量平面度。

产品型号：S neox

更新时间：2025-10-29

厂商性质：代理商

访问量：35

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Sensofar白光干涉轮廓仪为光学检测量身打造

Sensofar白光干涉轮廓仪为光学检测量身打造

S neox针对光学元件检测配备专属附件，包括0.65X Michelson物镜，能以大视野快速测量平面度。机身采用防光干扰设计，外壳哑光处理减少杂散光，内部光学通道经过遮光优化。检测平台配备真空吸附装置，可稳固固定透镜、棱镜等光滑样品，避免夹持变形。软件内置光学元件专用模板，包含曲率半径、面型误差等参数的一键分析功能。

二、性能聚焦：面型与粗糙度精准捕捉

干涉模式下的 PSI 技术能实现亚纳米级纵向分辨率，搭配低倍率物镜可在大视野下保持高精度，适合透镜面型检测。共聚焦模式配合 150x 高倍率物镜，能测量光学表面＞70° 的局部斜面。针对高反射样品，采用抗反射涂层镜头，减少光线反射干扰，提升成像质量。检测数据符合 ISO 12775 标准，可直接用于光学元件质量评估。

三、用材与稳定性保障

光学镜头选用高均匀性光学玻璃，经过多轮研磨与镀膜，确保不同区域透光率一致。设备框架采用高强度铝合金，配合底部减震脚垫，能降低环境振动对检测的影响。样品台真空吸附装置的材质为惰性橡胶，不会与光学元件表面发生化学反应，保障样品洁净。

四、操作流程与应用场景

以透镜面型误差检测为例：1. 将透镜通过真空吸附固定在平台上，对准 0.65X 物镜；2. 打开 SensoSCAN 软件，选择 “光学面型分析" 模块；3. 设置扫描区域与分辨率，启动干涉检测；4. 完成后软件自动计算 PV（峰谷值）、Rq（均方根偏差）等参数，生成 3D 面型图。该设备可广泛应用于透镜、棱镜、反射镜等光学元件的面型误差、粗糙度检测，以及光学薄膜厚度均匀性测量。

五、核心参数简表

项目	规格
专属物镜	0.65X Michelson 物镜
纵向分辨率	亚纳米级（干涉模式）
斜面测量能力	＞70°（光滑表面）
检测标准	符合 ISO 12775 标准
样品固定方式	真空吸附 + 机械夹具
报告参数	PV、Rq、曲率半径等