Sensofar白光干涉三维轮廓仪：简洁实用设计

产品简介

Sensofar白光干涉三维轮廓仪：简洁实用设计
基础版S neox采用模块化桌面结构，机身尺寸约700mm×600mm×900mm，重量适中，可轻松放置在车间质检台或实验室角落。

产品型号：S neox

更新时间：2025-10-29

厂商性质：代理商

访问量：35

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Sensofar白光干涉三维轮廓仪：简洁实用设计

基础版S neox采用模块化桌面结构，机身尺寸约700mm×600mm×900mm，重量适中，可轻松放置在车间质检台或实验室角落。操作界面简化了专业参数设置，保留核心功能图标，如“粗糙度分析"“缺陷筛查"等，新手可通过引导式操作完成检测。检测平台配备基础固定夹具，能适配常见的塑料零件、电子元件等样品，更换夹具仅需3分钟。

二、性能表现：满足常规检测需求

该型号纵向分辨率达纳米级，能清晰识别电子元件表面微米级的划痕与凸起。共聚焦模式下支持 Ra、Rz 等基础表面参数计算，符合 ISO 4287 标准。检测速度适配中小批量需求，常规样品 3D 扫描约 4 分钟完成，数据重复性良好，多次测量偏差可控。搭配 2.5x 低倍率物镜时，可实现大视野检测，减少样品移动次数。

三、用材与成本平衡

核心光学部件选用高透光率玻璃，虽未采用进阶版的镀膜，但仍能保证日常检测的图像清晰度。机身框架采用标准铝合金，在重量与抗振性之间取得平衡，适合普通车间环境。内部电子元件以稳定性为首要选择，降低维护频率，长期使用成本更具优势。

四、操作示例与适用场景

以塑料零件粗糙度检测为例：1. 将零件放在不锈钢平台上，用通用夹具固定；2. 打开软件，选择 “基础检测" 模式，输入样品编号；3. 设置扫描范围 5mm×5mm，点击 “开始"；4. 检测完成后，软件自动计算 Ra 值并生成 PDF 报告，可直接导出存档。该型号广泛适用于电子元件外观缺陷检测、塑料配件尺寸筛查、小型金属零件粗糙度测量等场景。

五、核心参数简表

项目	规格
检测技术	3D 共聚焦白光干涉技术
检测范围	5μm-3mm
纵向分辨率	纳米级
核心功能	基础粗糙度分析、缺陷筛查
设备重量	约 50kg
数据导出格式	PDF、Excel