小样品分析！泽攸电镜让微区研究效率翻倍

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小样品分析！泽攸电镜让微区研究效率翻倍
对需要分析小/大样品的研究者而言，ZEM15不是“凑合用"的工具，而是用“大包容"设计，让微区研究从“大海捞针"变成“精准导航"。

产品型号：ZEM15

更新时间：2025-10-28

厂商性质：代理商

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小样品分析！泽攸电镜让微区研究效率翻倍“以前测页岩样品，光找观察区域就要半小时。"地质研究所研究员陈工坦言，小样品（≤5cm）分析是团队长期痛点。传统电镜样品仓小，只能固定拇指大的切片，稍移动样品就丢失视域；拍几十张照片拼图，误差率高得让人头疼。

泽攸ZEM15的“大视野样品仓+坐标标记"功能，解决了这个问题。设备支持最大8cm×8cm样品，陈工团队将整块页岩切片直接放入，通过低倍全景扫描快速定位关键区域，再用高倍观察细节。“以前找一条矿物边界要拍20张图，现在扫描一张全景图，软件自动标注目标位置，效率至少提升3倍。"

更实用的是“坐标记忆"。陈工标记了一个黏土-有机质界面后，即使关机重启，下次开机输入坐标，设备直接跳转到该位置。“以前找样品像大海捞针，现在秒定位，节省大量时间。"团队用ZEM15完成的《页岩储层微孔隙分布特征》论文，因微观结构揭示更清晰，被核心期刊优先录用。

不止地质领域，ZEM15的大样品仓在半导体检测中也发挥优势。某芯片厂用它观察整片晶圆边缘的镀层缺陷，无需切割样品，直接定位问题区域，不良品分析周期从2天缩短至4小时。

对需要分析小/大样品的研究者而言，ZEM15不是“凑合用"的工具，而是用“大包容"设计，让微区研究从“大海捞针"变成“精准导航"。小样品分析！泽攸电镜让微区研究效率翻倍

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