Sensofar科研版：纳米材料研究的适配设计

产品简介

Sensofar科研版：纳米材料研究的适配设计
针对科研场景需求，Sensofar S neox 推出科研定制款，在基础款之上强化了参数精度、功能扩展性与数据追溯能力。

产品型号：S neox

更新时间：2025-10-23

厂商性质：代理商

访问量：71

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Sensofar科研版：纳米材料研究的适配设计

针对科研场景需求，Sensofar S neox 推出科研定制款，在基础款之上强化了参数精度、功能扩展性与数据追溯能力。

产品细节上，科研版保持模块化设计，可加装高温、低温样品台或电学测试附件，实现原位环境下的 3D 轮廓测量。操作界面除 15.6 英寸触控屏外，支持外接专业绘图板，方便在测量图像上标注特征区域，直接完成数据分析标注。样品台新增 “手动微调" 模式，搭配精度 0.01mm 的刻度标尺，便于精准定位与重复实验验证。

性能方面，光源升级为高稳定性 LED 白光，光谱输出波动 ±2% 以内，保障长期实验的数据一致性。图像传感器采用 200 万像素背照式 CMOS，量子效率在 450nm～650nm 波段达 70%，可捕捉低反射率纳米材料的微弱信号。白光干涉模块新增 “动态干涉条纹分析" 功能，纵向分辨率优化至 0.05nm，测量范围覆盖 0.5nm～10mm，能精准测量 10nm 金属薄膜厚度与毫米级台阶高度差。

科研版还具备 “时间序列测量" 功能，可设置 10 秒 / 次至 1 小时 / 次的间隔，连续记录材料在外界刺激下的结构变化，如纳米涂层加热收缩、水凝胶吸水膨胀等动态过程。软件内置 “数据溯源" 功能，自动记录光源强度、环境温度等参数并与测量数据绑定，确保实验可重复性。

科研版核心参数表

参数类别	规格参数
横向分辨率	0.12μm（100x 物镜）
纵向分辨率	0.05nm（白光干涉模式）
样品台行程	X/Y 轴 100mm，Z 轴 50mm
时间序列间隔	10 秒 / 次～1 小时 / 次
数据输出格式	.sfc、.stl、.mat、.csv