Sensofar 轮廓仪：解锁粗糙度测量更多可能

产品简介

Sensofar 轮廓仪：解锁粗糙度测量更多可能
在微型电子元件制造领域，如微型传感器、微型连接器、芯片封装元件等，其尺寸通常以微米为单位，表面质量与尺寸精度直接决定元件的电气性能与装配兼容性。哪怕是几微米的尺寸偏差或细微划痕，都可能导致元件无法正常工作或装配失效。

产品型号：S neox

更新时间：2025-10-23

厂商性质：代理商

访问量：89

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Sensofar S neox 共聚焦白光干涉光学轮廓仪的软件系统，除基础操作功能外，还包含丰富的拓展模块，为不同行业用户提供定制化测量解决方案。核心软件 SensoSCAN 支持插件式扩展，用户可根据需求添加行业专用分析模块，如针对半导体行业的 “晶圆缺陷分析插件"，能自动识别晶圆表面的划痕、凹坑等缺陷，统计缺陷数量与尺寸分布，并生成可视化报告；针对光学元件行业的 “面型误差分析插件"，可计算平面度、曲率半径等关键参数，且数据格式兼容主流光学设计软件，方便后续设计优化。

数据处理功能同样具备拓展性，软件内置的 “自定义算法编辑器" 允许专业用户编写专属分析公式，如在材料科学领域，用户可编写计算表面纹理各向异性的算法，满足特殊研究需求。多设备协同管理模块支持同时连接 5 台 S neox 设备，通过统一软件界面实现参数设置、数据采集与结果汇总，适合大型实验室或生产线的多设备联动场景。

软件的兼容性也值得关注，支持与 CAD 软件联动，将测量得到的三维轮廓数据导入 CAD 系统，与设计模型进行对比分析，快速识别实际产品与设计图纸的偏差。同时，软件可接入工厂 MES 系统，实时上传测量数据，便于生产过程的质量监控与数据追溯。操作权限管理功能能为不同岗位用户设置差异化权限，如操作员仅拥有测量与数据查看权限，管理员则可修改参数与管理用户，保障操作安全性。

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