Sensofar轮廓仪微观世界的精密之眼

产品简介

Sensofar轮廓仪微观世界的精密之眼
Sensofar 的三维共聚焦白光干涉光学轮廓仪，以其设计理念与技术整合能力，为科研实验室和工业生产线提供了稳定的微观测量支持，XPLore 型号便是其中的典型代表。

产品型号：S neox

更新时间：2025-10-21

厂商性质：代理商

访问量：152

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Sensofar新型3D共聚焦白光干涉光学轮廓仪S neox纳米材料研究的适配设计

Sensofar新型3D共聚焦白光干涉光学轮廓仪S neox 从入门到批量检测

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Sensofar 三维共聚焦白光干涉光学轮廓仪在微观测量领域的出色表现，在 S neox 型号上得到充分体现，其技术细节与功能设计均围绕提升测量效率与准确性展开。Sensofar轮廓仪微观世界的精密之眼

共聚焦部分采用基于微型显示器（FLCoS）的技术，摒弃了传统机械扫描结构，实现无运动部件的稳定扫描。这一设计不仅降低了机械磨损带来的精度衰减，还提升了扫描速度，共聚焦图像帧率达 12.5 帧 / 秒，垂直 3D 扫描速度为 8 层 / 秒，对于需要快速获取大面积表面信息的场景尤为适用。干涉物镜提供多种类型选择，包括可变反射率物镜、Michelson 物镜、Mirau 物镜及 Linnik 物镜等，可根据样品特性（如透明程度、表面反射率）灵活搭配，确保干涉信号的稳定性。

设备配备 4 个独立 LED 光源，分别为红 630nm、绿 530nm、蓝 460nm、白 550nm，不同波长的光线在测量中各有优势：较短波长的蓝光适合获取更高的水平分辨率，可识别更细微的结构；较长波长的红光在干涉扫描中穿透能力更强，适用于稍厚的透明样品；三色 LED 交替照明时，能通过光谱差异增强图像对比度，使不同材质的边界更清晰。镜头方面，采用尼康优质 CF60-2 系列平场消色差高分辨率镜头，在增大工作距离（方便放置大型样品）的同时，保证了数值孔径（NA）值，确保成像质量。

在透明薄膜测量领域，该型号表现突出，1 秒内即可完成 10nm - 20μm 厚度范围的薄膜测量，厚度分辨率达 0.1nm，横向分辨率 5μm。这一性能让它在光学元件制造中可用于检测增透膜的厚度均匀性，在薄膜研究中能跟踪薄膜生长过程中的厚度变化，为产品质量提升与技术创新提供有力的数据支撑。Sensofar轮廓仪微观世界的精密之眼

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