泽攸台阶仪高精度测量得力助手

产品简介

泽攸台阶仪高精度测量得力助手
对于需要较高测量精度的场景，泽攸台阶仪凭借其精细的设计和稳定的性能，能提供可靠的测量数据，适合科研机构和高精度制造企业使用。

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更新时间：2025-10-21

厂商性质：代理商

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对于需要较高测量精度的场景，泽攸 ZY - 1000 台阶仪凭借其精细的设计和稳定的性能，能提供可靠的测量数据，适合科研机构和高精度制造企业使用。

泽攸台阶仪高精度测量得力助手

产品细节

机身设计注重稳定性，底部设有防震脚垫，减少外界振动的影响。操作界面采用触摸屏设计，可直观设置各项参数，支持自定义测量程序，方便针对不同样品保存测量方案。样品台配备微米级调节旋钮，能精准调整样品的位置，确保测量点对准。测量探头配有保护盖，闲置时可有效防尘防潮。

产品性能

该台阶仪的测量分辨率较高，能捕捉到微小的台阶高度变化和表面凹凸细节。采用闭环控制的传动系统，探头移动的定位精度较好，多次测量同一位置的偏差较小。它具备数据统计功能，可对多组测量结果进行平均值、最大值、最小值的计算，便于分析样品的整体状况。对光学镜片、半导体晶圆等高精度表面的测量效果较好。

用材讲究

测量探头采用特殊的宝石材料，硬度高且耐磨性强，保证了长期高精度测量的稳定性。设备内部的光学传感器选用高灵敏度元件，能精确感知探头的微小位移。样品台采用天然花岗岩材质，具备良好的稳定性和抗震性，确保测量过程中样品台自身的形变极小。

参数详情

参数项	具体数值
测量范围	0 - 1000μm（台阶高度）
分辨率	可满足高精度台阶测量需求
定位精度	±1μm（样品台移动）
数据存储	可存储 1000 组测量数据
电源要求	220V±10%，50Hz

广泛用途

在半导体晶圆制造中，可测量光刻胶台阶、蚀刻深度，为晶圆加工工艺的优化提供数据支持。在光学元件生产中，能检测透镜表面的曲率台阶、镀膜厚度，保障光学元件的成像质量。在精密仪器研发中，可测量微小机械结构的台阶尺寸和表面粗糙度，确保仪器的正常运行。

使用说明

设备需放置在恒温恒湿的实验室环境中，避免阳光直射和气流干扰。使用前对设备进行校准，按照说明书的步骤用标准样品调整测量精度。放置样品时，使用专用的样品座，确保样品与样品台紧密贴合。通过触摸屏设置详细的测量参数，包括测量路径、采样间隔等，启动测量后耐心等待完成。测量数据可导出至电脑进行进一步分析，设备使用后需关闭电源，盖上防尘罩。

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