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BEUKER白光干涉仪：表面形貌测量新选择
产品简介
BEUKER白光干涉仪：表面形貌测量新选择BEUKER白光干涉光学轮廓仪采用非接触式测量技术，适用于微纳米级表面形貌分析。其核心部件采用高质量光学镜头和稳定光源系统，确保测量数据的可靠性。
产品分类
BEUKER白光干涉光学轮廓仪采用非接触式测量技术，适用于微纳米级表面形貌分析。其核心部件采用高质量光学镜头和稳定光源系统，确保测量数据的可靠性。BEUKER白光干涉仪：表面形貌测量新选择 布鲁克白光干涉光学轮廓仪 BEUKER白光干涉仪：表面形貌测量新选择
产品细节与性能
光学系统：配置高分辨率CCD和长寿命LED光源，适应不同材质表面的测量需求。
扫描范围：垂直扫描范围可达10mm，横向分辨率优于0.1μm。
软件支持：配备专业分析软件，支持3D形貌重建、粗糙度计算等功能。
用材与参数
主体框架采用铝合金材质，兼顾轻便与稳定性。
光学元件经过防尘防霉处理，适合实验室和工业环境。
主要型号
BKI-200：基础型，适用于常规科研与质检。
BKI-300：高精度型，支持更大范围测量。
用途
广泛应用于半导体、光学元件、精密加工等行业，可用于检测表面粗糙度、台阶高度、薄膜厚度等。
BEUKER白光干涉仪：表面形貌测量新选择 布鲁克白光干涉光学轮廓仪 BEUKER白光干涉仪：表面形貌测量新选择
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